KAIST查明电池纳米表征假信号来源：粗糙表面可伪装成离子通道
KAIST材料系洪承范教授团队联合同校多个课题组，查明电化学应变显微镜（ESM）在电池材料纳米尺度分析中的伪影来源：表面凹凸导致的探针接触变化可产生与真实离子迁移高度相似的信号，并在石墨负极与钠离子固体电解质Na2Zn2TeO6上得到验证。团队提出的氩离子冷却截面抛光（CCP）制样方案可有效抑制伪影，成果发表于《Small Methods》，将提升固态与钠离子电池材料开发的测量可靠性。
电化学应变显微镜
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