AFM

KAIST量化电池纳米测量伪影来源，粗糙表面即可产生类离子输运信号

韩国科学技术院（KAIST）材料系研究团队定量揭示了电化学应变显微镜（ESM）中由表面粗糙度引起的测量伪影机制：在无离子输运的单晶硅上加工细沟槽后，仅表面高低变化即可改变探针接触产生类似真实离子迁移的信号，并提出了抑制方法以避免电池材料离子输运图谱误判。

B910化工 9月9日 23:49 27