9月2日消息，arXiv预印本网站公布论文《弱键合离子簇极化介导的欠屏蔽效应》（arXiv:2609.00178，9月1日提交）。作者来自瑞典隆德大学等机构（David Ribar、Jake W. Felber、Clifford E. Woodward、Jan Forsman）。

在高浓度电解液中，实验观察到一个反常现象——'反常欠屏蔽'（anomalous underscreening）：德拜屏蔽长度并不随盐浓度增加而单调缩短，而是在约1 mol/L单价盐浓度附近触底后随浓度进一步升高而回升，与经典静电理论的预言相悖。该现象与高能量密度电池电解液、电化学双电层等体系直接相关。

本文在'离子在高离子强度下形成松散连接的簇'这一假说基础上引入新机制——簇极化。作者指出：簇的形成会降低有效离子强度，使屏蔽长度的衰减放缓但不逆转；而簇在外场下的极化响应会在浓盐溶液中产生更长程的同号表面/颗粒间排斥。理论上，任意簇拓扑的极化响应可通过一个单一参量完全刻画——簇内分子电荷结构因子的电荷加权二阶矩。数值上，作者基于'卫星离子经谐振弹簧弱键合于中心离子'的星形簇模型，用经典聚合物密度泛函理论（cDFT）计算了不同盐浓度下的表面相互作用与屏蔽长度。

结果表明：假定簇化离子比例随盐浓度增加，模型可定性再现反常欠屏蔽——有效屏蔽长度在约1 mol/L处出现极小值；但定量上，预测的屏蔽长度回升幅度弱于典型表面力实验测量值，提示簇结构或簇间相互作用仍需更精细的建模。 （来源：arXiv）