爱丁堡分析与Alontia联合推出DB30纳米粒度与折光指数分析套件：普通紫外可见分光光度计升级纳米表征
Edinburgh Analytical与丹麦Alontia达成战略合作，推出DB30 NanoIndex与NanoSize套件，将纳米光子比色皿技术与云端分析叠加在DB30双光束紫外可见分光光度计上，使实验室用熟悉的UV-Vis设备即可获得折光指数与纳米级粒度洞察，降低样品用量与制样复杂度。
纳米表征
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Bruker发布eWARP TKD与XFlash FlatQUAD 2L探测器，纳米材料表征速度提升一个数量级
Bruker推出两款SEM分析探测器新品：eWARP TKD将直接电子探测像素阵列传感器引入透射菊池衍射，配162×162像素、26×26mm2大面积探头和5700fps采集速度，配合场发射SEM实现亚2纳米空间分辨率，衍射数据采集比传统TKD快近一个数量级；XFlash FlatQUAD 2L则实现EDS与背散射成像同步采集。