Bruker发布eWARP TKD与XFlash FlatQUAD 2L探测器，纳米材料表征速度提升一个数量级
Bruker推出两款SEM分析探测器新品：eWARP TKD将直接电子探测像素阵列传感器引入透射菊池衍射，配162×162像素、26×26mm2大面积探头和5700fps采集速度，配合场发射SEM实现亚2纳米空间分辨率，衍射数据采集比传统TKD快近一个数量级；XFlash FlatQUAD 2L则实现EDS与背散射成像同步采集。
TKD
共 1 篇 · B910化工 · AI 化学信息库
