X射线衍射仪

理晶发布DicifferX微区X射线衍射仪：强度最高提升330倍，瞄准MLCC等微型化电子元件表征

日本理晶（Rigaku）将在JASIS 2026展出DicifferX Microarea Edition微区X射线衍射仪，通过固定光源与高精度测角仪实现数十微米微区稳定测量，高强配置下X射线强度约为通用XRD系统的330倍，面向MLCC等日益微型化的电子元件材料表征需求。

B910化工 10月26日 02:15 37