日本埼玉大学提出热电器件统一评测框架：性能不止取决于材料本身
埼玉大学长谷川裕裕教授在《应用物理杂志》发表研究，基于时间域阻抗谱（TDIS）建立将热电材料、电极、引线和热泄漏纳入同一描述的统一理论框架，发现瞬态响应遵循普适标度律，为热电器件系统级设计与废热回收应用提供了新的理论基矗
材料表征
共 6 篇 · B910化工 · AI 化学信息库
布鲁克海文实验室打造四合一X射线CT平台：核材料跨尺度表征一次完成
美国能源部布鲁克海文国家实验室在NSLS-II同步辐射光源XPD线站建成单一实验装置，可对同一样品连续开展四种CT表征，覆盖原子排列到整体结构多个尺度，服务于核材料在极端环境下的服役评估。
美国橡树岭国家实验室发布SimuScan AI框架，原子力显微镜实现自主成像
9月11日AZoM报道，美国橡树岭国家实验室（ORNL）发布SimuScan AI框架，让原子力显微镜（AFM）自主识别纳米尺度特征并选择最具信息量的下一扫描区域，解决AFM图像依赖专家操作与高质量标注训练数据短缺两大瓶颈，使AFM更快、更一致，适用于高通量材料研究。
Semplor发布ONYX台式扫描电镜：110×110mm样品台为同类最大，分辨率<8nm
Semplor推出ONYX台式SEM，配备110×110mm电机样品台（可放64个半英寸样品座），分辨率
Semplor发布NANOS EBSD台式电镜：晶体取向分析与能谱集成于一体
Semplor推出集成电子背散射衍射（EBSD）的台式扫描电镜NANOS EBSD，集成Bruker e-Flash XS探测器和ESPRIT软件，倾斜台0-70°免破真空切换，分辨率
赛默飞发布EMPAD G2电子探测器，推进4D STEM材料表征
8月29日，赛默飞世尔在AZoM发布Thermo Scientific EMPAD G2电子像素阵列探测器，用于高速四维扫描透电镜（4D STEM）。该探测器可在单次实验中同时捕捉强信号与弱信号，测量材料的结构、化学、应变及电磁性质，支持应变分析与差分相位等前沿应用，并与Velox软件集成实现4D STEM与能散谱同步采集。