10月24日消息，据AZoM报道，日本理学公司（Rigaku Corporation）发布Qualana微区X射线荧光光谱仪（Micro-XRF），可实现小至20微米区域的元素分析。

该产品瞄准的分析需求包括：电子器件、电池与先进材料日益精密化和微型化背景下，对小型部件与材料的局部元素成分、膜厚分布及异物颗粒的评估。微区元素分析的传统难点在于：X射线准直导致的信号强度下降，以及样品表面凹凸引起的观察点与X射线照射点错位。Qualana采用正上方直接照射并观测样品的光学系统，配合为微区分析设计的高精度样品台，可准确获取目标微区的元素信息。

Micro-XRF在锂电池正负极材料分布均匀性、镀膜厚度一致性、电子焊点异物污染等场景中的应用正在扩大，与SEM-EDS等真空分析手段相比，其优势在于样品无需制备、可在大气环境下快速面扫。理学在X射线分析仪器领域与布鲁克、赛默飞等长期竞争，Qualana与同日发布的DicifferX微区版XRD形成"衍射+元素"的微区表征组合，显示厂商正围绕微型化电子与电池材料的质检需求加紧布局。 （来源：AZoM）