9月3日消息，布鲁克（Bruker）发布扫描电镜（SEM）元素分析用EDS探测器XFlash 7200 FIRE，公司称其为数十年来EDS探测器设计最重大的进展，通过克服传统大面积探测器在吞吐量和能量分辨率上的固有限制，为半导体和纳米结构分析树立了新标杆。

作为QUANTAX产品家族的最新成员，XFlash 7200 FIRE采用全新概念：将大面积探测器的效率与四个独立运行硅漂移探测器（SDD）分段的计数率性能相结合。200mm²的大活性面积带来极高的收集立体角，同时确保大幅缩短采集时间所需的高吞吐量而不牺牲数据质量；无窗设计则最大化探测效率，尤其在低能范围，从而实现高度准确的轻元素定量分析。

凭借能量分辨率与前所未有的计数率能力的结合，该探测器面向要求苛刻的分析应用，如含轻元素的电池材料、束流敏感的生物样品，以及对峰重叠、空间分辨率和吞吐量有严苛要求的半导体器件。布鲁克高级应用科学家Purvesh Soni博士称之为“每个先进EDS用户的梦想”，公司高层表示分段式设计提供的规格超越市场现有任何产品，将助力从电池、半导体到先进制造质量控制等领域的材料挑战研究。 （来源：AZoM）